基于IEEE P1500芯核測試控制結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
所屬分類：技術(shù)論文
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文檔介紹：討論了IEEE P1500測試架構(gòu)，詳細(xì)分析并實(shí)現(xiàn)了IP核的測試環(huán)（Wrapper）結(jié)構(gòu)，給出了一種支持該標(biāo)準(zhǔn)的芯片級測試控制結(jié)構(gòu)。該結(jié)構(gòu)能控制基于總線結(jié)構(gòu)的 TAM以及P1500 Wrapper，通過芯片級CTAP控制器，支持串行或并行測試訪問，實(shí)現(xiàn)了核內(nèi)測試以及核間互連測試。同時該結(jié)構(gòu)只需5根額外測試管腳。
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